SENCON漏光測試儀ELTP

Quasar 頭的靈敏度是以前的探測器的兩倍，比原來的 ELTP 光測試儀好 20 倍。 采用新的內(nèi)部處理器電子器件、改進的振動抑制、新一代的高性能傳感器和新的探測器光學器件。

新的 ELTP 可檢測端板上的 1 微米測試孔。由于面板、刻痕或卡盤壁上的撕裂或針孔以及分裂鉚釘導致的實際生產(chǎn)泄漏，其檢測成功率高于競爭對手的系統(tǒng)。如果剪裁卷曲和復合斑點缺陷大到足以影響末端周圍的光密封，則它們也會被檢測到。該系統(tǒng)甚至可以檢測到一些間接光路。

• 減少浪費、HFI（留待檢查）和拒收
• 快速檢測生產(chǎn)問題
• 提高客戶滿意度
• 可驗證的 1 微米靈敏度，錯誤剔除率低于百萬分之三
• 觸摸屏界面
• 工業(yè)0 連接

測試能力：1 微米激光在端板上鉆孔測試孔（實際檢測取決于生產(chǎn)變量）

運行速度1高達 1000 次/分鐘（詳細規(guī)格請聯(lián)系 Sencon）

圓端尺寸1  112 至 603 / 44.5?mm 至 153?mm 使用皮帶袋轉移

其他尺寸和非圓形聯(lián)系 1 Sencon 討論其他尺寸和非?-?圓形

ELTP 已成功安裝在全球多種類型的飲料端轉換壓機以及各種食品端壓機上。根據(jù)客戶規(guī)格，還為其他尺寸和非圓形形狀制作了專用系統(tǒng)。