FORMFACTOR光波探頭LWP-CLV-MM

LWP 系列光波探頭可以對晶圓上和混合光子器件進行光學測量。它具有用戶可更換的光纖尾纖，使探頭能夠針對各種光傳輸和光收集應(yīng)用進行優(yōu)化，包括頂部照明光電二極管的表征、垂直腔面發(fā)射激光器 (VCSEL)、混合發(fā)射器和接收器、

和 LED。

LWP 探頭可以照亮和收集用于表征各種光子器件的光信號。當與 FormFactor 的探針臺和 RF/DC 探針結(jié)合使用時，LWP 探針可以提供調(diào)制、頻譜、時域和低電平 LIV 測量。

現(xiàn)場可更換光纖尾纖的選擇取決于所需的照明模式或收集效率。光纖尾纖可用作單?；蚨嗄＃瑤в型哥R端面或切割端面。透鏡光纖尾纖提供高數(shù)值孔徑 (NA) 照明并以極低的背反射收集光線。帶透鏡的單模光纖可提供小至 5 μm 的照明區(qū)域。多模尾纖非常適合有效率的光收集。

靈活性和易用性

• 針對各種應(yīng)用進行了優(yōu)化的現(xiàn)場可更換光纖
• 晶圓映射能力和關(guān)鍵參數(shù)的可視化顯示

準確性

• 接觸保護設(shè)計可確保在晶圓和基板級別進行快速、準確和可重復的測量
• 大限度地減少了高速測試的電氣寄生效應(yīng)

兼容性

• 標準 FC 型光纖連接器
• 與 FormFactor 探針臺和附件兼容