多種多樣的外部探頭使得LEPTOSKOP 2042在復(fù)雜的幾何形狀的涂層測量和困難的試驗條件下的測量更加靈活。高達20毫米的涂層厚度也是可能的。根據(jù)要求,KARL DEUTSCH可提供特別定制的探頭。
KARL DEUTSCH(卡爾德意志)自1949公司成立以來,一直致力于研發(fā)和生產(chǎn)無損檢測儀器和設(shè)備,是個傳統(tǒng)的家族企業(yè)。產(chǎn)品包括便攜式儀器,臺式儀器, 探頭和滲透裂紋檢測劑。典型的檢測任務(wù)是超聲波焊縫檢測,鑄件缺陷檢驗,用磁粉或滲透方法對鍛件裂紋檢測,軌道交通和航空安全系統(tǒng)中的部件檢測,以及壁厚和涂層厚度測量。
其它探頭型號
2442.100探頭Fe 0°,測量范圍0 - 5000μm
2442.110探頭Fe 90°,測量范圍0 - 5000μm
2442.120探頭鐵秒0°,測量范圍500 -20000μm
2442.130探頭NFe 0°,測量范圍0 - 1000μm
2442.140探頭NFe S 0°,測量范圍0 -3750μm
2442.200雙極探頭Fe,測量范圍為0.5 -12.5μm
2442.300微探針Fe 0°,測量范圍0 - 500μm
2442.310微型探頭NFe 0°,測量范圍0 - 500μm
2442.320微型探頭Fe 45°,測量范圍0 - 500μm
2442.330微型探頭NFe 45°,測量范圍0 - 500μm
2442.340微型探頭Fe 90°,測量范圍0 - 500μm
2442.350微型探頭NFe 0°,測量范圍0 - 500μm
2442.410結(jié)合探測鐵NFe 0°,測量范圍:Fe 0 -3000μm,NFe 0 - 1,250μm
2632.002 2米擴展插頭線,用于LEPTOSKOP 2042