QuellTech 激光掃描儀利用三角測(cè)量原理來檢測(cè)表面的二維輪廓。通過特定的光學(xué)組件,點(diǎn)狀激光束被擴(kuò)展為一條線并投射到感興趣的對(duì)象上。反射激光線的漫射光被物鏡以一定角度捕獲,然后導(dǎo)向二維接收芯片。
根據(jù)已知的距離和角度,為 x 水平(激光線)中的每個(gè)像素計(jì)算準(zhǔn)確的校準(zhǔn)高度值 (z),從而在樣本的 x-z 平面中產(chǎn)生準(zhǔn)確的輪廓。如果掃描儀在樣品(y 軸)上引導(dǎo),則會(huì)創(chuàng)建一系列輪廓,在空間中形成三維點(diǎn)云。 該點(diǎn)云可以通過軟件進(jìn)行尺寸控制。
掃描儀類型:50-178
Z范圍: 50 mm
X 起點(diǎn)范圍:165 mm
X 中間范圍(標(biāo)稱):178 mm
X 端范圍:190 mm
距離Z- 起點(diǎn)范圍:123 mm
工作距離Z-中間范圍:148 mm
X分辨率:86.91μm
Z分辨率:2.13μm
錫膏用量監(jiān)督
連接器的銷直線度測(cè)量
表面凸度測(cè)量
間隙測(cè)量和控制
尺寸穩(wěn)定性的在線檢測(cè)
食物分份
鐵路用鋼軌型材檢驗(yàn)
飛機(jī)襟翼和副翼的角度設(shè)置
印刷電路的檢查