RAYONICX射線涂層測厚儀RS-40

RS-40 X 射線涂層測厚儀可測量電解線和浸涂線鋼帶上金屬涂層的非接觸式、高精度和連續(xù)沉積。

用于上下帶材側(cè)面的兩個反向散射頭可以在一個共同的 O 型框架（橫向移動）中提供，也可以作為具有兩個單獨(dú)導(dǎo)軌的單獨(dú)系統(tǒng)提供。在第一種情況下，測量是針對自由運(yùn)行的條帶進(jìn)行的，而單個導(dǎo)軌的橫向運(yùn)動允許針對返回滑輪進(jìn)行測量。

在熱鍍鋅生產(chǎn)線中，測量系統(tǒng)可以安裝在冷、暖和熱位置。差異僅存在于測量頭和測量點(diǎn)電氣元件的冷卻和絕緣上。為了在熱位置進(jìn)行測量，我們提供了與相應(yīng)生產(chǎn)線精確匹配的客戶特定測量裝置。

與所有 Rayonic X 射線源和探測器一樣，反向散射頭安裝在堅固的不銹鋼外殼中。它們由帶管的 X 射線源、高壓電子設(shè)備、發(fā)射控制和光束快門以及檢測器模塊組成，這些模塊僅在預(yù)過濾器方面的不同應(yīng)用有所不同。

可以測量以下涂層：鋅和鋅合金（Zn / Ni、Zn / Al）、鋁、錫、銅和黃銅、鎳、鈷、鉻、鍍鋅。對于合金，除了總覆蓋層外，例如鋅和鋁是針對 Zn/Al 合金確定的?？筛鶕?jù)要求提供更多涂層。

瑞尤尼克（Rayonic）的技術(shù)水平

•  密封的不銹鋼外殼中的X射線源和探頭，具有隔熱和冷卻功能。
• 以最大額定值（電壓和功耗）的30％左右運(yùn)行的金屬陶瓷X射線管可確保高穩(wěn)定性和使用壽命
• 電動輻射快門能監(jiān)控停止位置和移動時間。
• 帶有稀有氣體填充的電離室，可實現(xiàn)快速，穩(wěn)定和精確的響應(yīng)，長壽命和高可用性。
• 直接在測量頭內(nèi)部對信號進(jìn)行數(shù)字化處理。
• 由于內(nèi)部產(chǎn)生和控制高壓，X射線源和傳感器的24 VDC操作。
• 基于具有所有標(biāo)準(zhǔn)接口（以太網(wǎng)，Profibus等）的工業(yè)PLC的過程電子設(shè)備，有助于快速，經(jīng)濟(jì)高效地適應(yīng)軋機(jī)要求并將其集成到自動化系統(tǒng)中。
• 用于所需工廠和儀表配置的可視化和長期數(shù)據(jù)存儲的客戶端-服務(wù)器技術(shù)。

解 決 問 題 的 方 法 – R a y o n i c 方 法

對于客戶專用的鎳和鈷涂層測量儀，Rayonic面臨雙重挑戰(zhàn)：

測量原理

• 測量儀的安裝空間非常有限；
• 同時測量依次施加的鎳和鈷層。

用X射線熒光法測量鈷涂層非常困難，以前還沒有實現(xiàn)在線測量。 似乎這不足以構(gòu)成挑戰(zhàn)，此外還必須測量第二層鎳涂層。 Rayonic提出了令人信服的概念，并在幾個月內(nèi)實現(xiàn)了新穎的測量?，F(xiàn)有的掃描儀框架無法在電解涂層線的狹窄空間中使用。 通過設(shè)計一個全新的掃描儀框架來解決該問題，該掃描儀框架以厘米精度安裝到最終位置，此后測量系統(tǒng)極大地節(jié)省了原材料，并優(yōu)化了涂層質(zhì)量和生產(chǎn)工藝。

經(jīng)常測量的金屬涂層

使用RS-40壓力計的是鋅和鋅合金（Zn / Ni，Zn / Al），鋁和錫。

其他典型應(yīng)用是銅，黃銅，鎳，鈷和鉻涂層。 對于諸如Zn / Al的合金，除了總涂層厚度外，還可以選擇確定合金的成分。 對于鍍鋅涂層，需要測量鐵含量以及涂層厚度。

快速的投資回報

瑞尤尼克設(shè)計，制造和提供創(chuàng)新的測量和控制解決方案，用于連續(xù)，非接觸式測量金屬和非金屬帶材，卷材和板材的厚度和涂層厚度?？焖?，非常精確的測量數(shù)據(jù)可持續(xù)監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量。 與自動化系統(tǒng)相結(jié)合，厚度測量得以改善，保證了產(chǎn)品質(zhì)量并節(jié)省了原材料。減少廢品和降低能耗可帶來進(jìn)一步的經(jīng)濟(jì)效益

鋼板上金屬涂層厚度的測量利用了X射線熒光（XRF）效應(yīng)。 X射線源的主光束直接對準(zhǔn)要測量的材料，并在涂層和基材中產(chǎn)生二次各向同性的X射線，即所謂的熒光輻射。

熒光輻射的能量是產(chǎn)生輻射的元素特征。鋼板中產(chǎn)生的輻射具有與涂層（如鋅層）中產(chǎn)生的熒光輻射不同的能量。使用差分濾波器的方法，可以選擇輻射的一個或另一個分量進(jìn)行測量。

安裝在測量頭中的探頭模塊在反向方向（例如，水平方向）上檢測選定的輻射分量。金屬涂層的輻射。涂層厚度的增加也增加了涂層的熒光輻射的強(qiáng)度。熒光輻射強(qiáng)度的測量可以精確確定涂層的厚度。