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QWED諧振器SPRD

  • 品  牌:QWED
  • 型  號:SPRD
  • 技術(shù)資料:
  • 閱讀次數(shù):5772

產(chǎn)品介紹

SPDR使用特定的諧振模式。該模式具有取決于諧振器尺寸的特定諧振頻率,并且在一定程度上也取決于測量樣品的電學(xué)性質(zhì)。因此,每個諧振器被設(shè)計用于特定的額定頻率,并且實(shí)際測量以接近標(biāo)稱頻率的頻率進(jìn)行。SPDR的基本線路的標(biāo)稱頻率為:1.1 GHz,1.9 GHz,2.45 GHz,5 GHz,10 GHz。在1.1 GHz和15 GHz之間的其他頻率的諧振器可以在特殊要求下制造。

測量空諧振器和諧振器的諧振頻率和Q因子。提供專用軟件用于介電常數(shù)和介電損耗角正切測定??梢允褂肁gilent Technologies配備85071E材料測量軟件(選件300)的PNA / ENA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀之一,用戶只需將QWED的專用應(yīng)用程序上傳到網(wǎng)絡(luò)分析儀中,并直接在其顯示屏上獲得結(jié)果。使用不同網(wǎng)絡(luò)分析儀的用戶需要在標(biāo)準(zhǔn)PC計算機(jī)或網(wǎng)絡(luò)分析儀(如果配備Windows操作系統(tǒng))上安裝介質(zhì)特性計算軟件。

性能特點(diǎn)

薄層電阻測量范圍:4kΩ÷10MΩ

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)地:波蘭

標(biāo)稱頻率:1.1 GHz,1.9 GHz,2.45 GHz,5 GHz,10 GHz

表面材質(zhì):鋁

結(jié)果顯示:顯示屏

薄層電阻測量范圍:4kΩ...10MΩ

薄層電阻測量次數(shù):2

薄膜襯底:半絕緣

測量數(shù)值:層狀介電材料的復(fù)介電常數(shù)

可定制:是

溫度范圍:-270℃至110℃

產(chǎn)品應(yīng)用

SPDR用于測量包括LTCC襯底在內(nèi)的層狀電介質(zhì)材料的復(fù)介電常數(shù),也用于沉積在低損耗介質(zhì)襯底上的薄鐵電薄膜。此外,SPDR可用于測量各種導(dǎo)電材料(如商用電阻層,薄導(dǎo)電聚合物膜或高電阻率半導(dǎo)體)的表面電阻和電導(dǎo)率。這種測量僅適用于Rs> 5kΩ/平方的大表面電阻采樣。樣品的小尺寸取決于諧振器的工作頻率。SPDR適合在-270℃至110℃的溫度下工作。

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